威廉希尔杜雪成老师针对AXI-CDMA模块单粒子效应软错误失效机理研究取得了新的进展

威廉希尔杜雪成老师针对AXI-CDMA模块单粒子效应软错误失效机理研究取得了新的进展，学院硕士研究生熊旭为第一作者，其为通讯作者。相关研究论文《Analysis of the impact on soft error in AXI CDMA based on Xilinx Zynq-7000 FPGA》发表在核仪器与测量方法国际权威期刊《Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A》。

单粒子效应诱发航天电子系统失效的一个重要因素，对空间辐射环境中FPGA的工作可靠性产生严重威胁。AXI-CDMA IP核是Xilinx FPGA器件上提高数据吞吐量和数据传输效率的一个重要功能模块，深入研究AXI-XDMA模块单粒子效应机理对于指导其抗辐射加固设计具有重要的意义。本论文设计了CDMA模块单粒子效应测试方法，通过实验研究了a粒子软错误对基于Xilinx Zynq-7000 FPGA的AXI CDMA模块的影响机理，并分析了CDMA处于不同的工作模式下的软错误故障类型和单粒子效应截面。相关研究为CDMA模块单粒子效应评估和抗辐射加固提供技术支撑。上述工作得到湖南省教育厅重点项目及WilliamHill中文官方网站博士启动基金的资助。

（a）AXI-CDMA模块软错误故障类型分布                               （b）单粒子翻转统计